GCSTD-D 介電常數(shù)介質損耗測試儀器

滿足標準：

GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容

率和介質損耗因數(shù)的推薦方法

GB／T1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質損耗角正切值的測定方法

ASTM D150／IEC 60250固體電絕緣材料的（恒久電介質）的交流損耗特性和介電常數(shù)

的測試方法

介電常數(shù)介質損耗測試儀器試驗方法：

接觸法：適用于厚度均勻、上下表面平整、光滑材料

非接觸法：適用于上下表面不平整、不光滑材料

電極類型：固定電極-測量電極φ38mm／φ50mm（標配電極1套，標配為38mm）

液體電極-液體容量15ml

粉體電極-根據(jù)樣品量可配專用電極

試樣類型：固體、液體、粉體、膏體／規(guī)則物或者不規(guī)則物

性能特點：

測試頻率20H2～2MHz，10mHz步進

測試電平10mV～5V，1mV步進

基本準確度0.1％

最高達200次／s的測量速度

320x240點陣大型圖形LCD顯示

五位讀數(shù)分辨率

可測量22種阻抗參數(shù)組合

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外置偏流源至40A（配置兩臺TH1776）（選件）

電壓或電流的自動電平調整（ALC）功能

V、1測試信號電平監(jiān)視功能

圖形掃描分析功能

20組內部儀器設定可供儲存／讀取

內建比較器，10檔分選及計數(shù)功能

多種通訊接口方便用戶聯(lián)機使用

2m／4m測試電纜擴展（選件）

中英文可選操作界面

可通過USB HOST 自動升級儀器工作程序

測試材料：

無源元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡元件

等的陽抗參數(shù)評估和性能分析。

半導體元件：變容二極管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析

其它元件：印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估

介質材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評估

磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估

半導體材料：半導體材料的介電常數(shù)、導電率和C-V特性

液晶材料：液晶單元的介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性